El área de Laboratorios de Gmas cuenta  el servicio de Difracción de Rayos X para el   

análisis mineralógico cualitativo y cuantitativo de muestras de roca

 La técnica de difracción de Rayos X identifica un espécimen a partir de la interacción de rayos x con las diferentes estructuras cristalinas que componen dicho espécimen. La técnica se basa en el fenómeno de interferencia constructiva descrito por la ley de Bragg: 

  • nλ=2dSenθ

Donde λ es la longitud de onda de los rayos X emitidos. El valor de λ es del orden de Angstrom, d es la distancia interplanar que se puede entender como la distancia entre los diferentes planos geométricos en el espacio reciproco formados a partir del arreglo atómico. θ es el ángulo típico para cada plano que difracta los rayos X.


 El difractograma indica las difracciones observadas (picos) a ciertos ángulos θ como función de la intensidad de cada evento. La medición del ángulo, permite conocer la distancia interplanar, lo cual es la huella dactilar que permite identificar los compuestos. La intensidad de cada pico depende de muchas causas entre las cuales están el número atómico, el arreglo de los átomos en la celda unidad, defectos en la red, factores instrumentales del equipo y técnicas de preparación de la muestra a analizar son importantes tener en cuenta. 


La identificación y cuantificación de minerales en general y la fracción arcilla como se muestra a continuación, sirve para establecer de manera rápida y confiable los minerales presentes en rocas, muestra de pozo (núcleos y cortes), cerámicas, cementos, ladrillos. 

Se tiene la tecnología y la experiencia para el apoyo a la industria en el desarrollo y control de calidad de productos basados en minerales. 

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Análisis mineralogico

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Identificación de minerales en muestra pulverizada y homogenizada.

Especiación de minerales de arcillas

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Identificación de minerales arcillosos analizando XRD en cada post-tratamiento